廣泛應用于顯示器件、Micro-LED、Mini-LED、AR/VR近眼顯示、車載顯示、背光模組及光學模組等領域的亮度均勻性和缺陷檢測，可快速捕獲被測物體整個表面的亮度分布信息，精準測量亮度&亮度均勻性等核心光學參數，支持單像素級精細化檢測，能高效識別發光表面暗點、亮點、Mura（亮度不均）等細微缺 ...
廣泛應用于顯示面板、Micro-LED、OLED、AR/VR近眼顯示、車載顯示及背光模組等領域，用于評估上述產品的亮度、色度均勻性及顯示品質檢測，基于科學級面陣傳感器與CIE標準濾光/光譜技術的二維光學測量設備，可一次性獲取整幅畫面的像素級亮度、色度及均一性數據，適配顯示行業的快速質檢與研發分析，兼 ...
