探針卡是晶圓測試環(huán)節(jié)的核心電性互聯(lián)載體，可實現(xiàn)測試機與被測芯片間的精準信號傳輸，通過穩(wěn)定的通路連接完成芯片電性能參數(shù)的高效測試，是保障晶圓良率與性能驗證的關(guān)鍵部件。
<big id="klq0v"></big>
