Cell PG主要用于OLED/LCD屏體的Cell缺陷檢查、白平衡調節等。內部電路采用先進的FPGA可編程邏輯門陣列技術，以實現高實時性和高同步性的信號時序控制。
MDL老化PG用于模組高溫/常溫老化測試環節，輸出持續、穩定的滿屏/循環測試信號（如純色、棋盤格、滾動條紋），長時間加載在模組上，加速暴露潛在的可靠性問題（如虛焊、元件早期失效），是可靠性驗證工具。
MDL檢測PG通過產生標準的圖像信號、控制信號及電源電壓施加到被測顯示模組，以完成顯示測試、Gamma調節、Mura修復等工序。
