MEMS探針卡
功能介紹
主要用晶圓測試時實現測試機與被測裸片的電氣聯接，通過傳輸信號對芯片參數進行測試。
產品介紹
主要用于晶圓測試時實現測試機與被測裸片的電氣聯接，通過傳輸信號對芯片參數進行測試。

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